---------------------------------------------------------------------------------
Выбираю•IT помогает в выборе будущей профессии абитуриентам
и студентам, в развитии профессиональных навыков молодым специалистам,
в выборе дополнительных программ обучения и специальных курсов. " /> ---------------------------------------------------------------------------------
Выбираю•IT помогает в выборе будущей профессии абитуриентам
и студентам, в развитии профессиональных навыков молодым специалистам,
в выборе дополнительных программ обучения и специальных курсов. " />

Портал издательского дома "ПОЛОЖЕВЕЦ и ПАРТНЕРЫ"
---------------------------------------------------------------------------------
Выбираю•IT помогает в выборе будущей профессии абитуриентам
и студентам, в развитии профессиональных навыков молодым специалистам,
в выборе дополнительных программ обучения и специальных курсов.

О портале Каталог профессий

В Точке кипения ИТА ЮФУ открывается новое научное направление SCIENCE.POINT

Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения ЮФУ совместно с Точкой Кипения ИТА ЮФУ запускает новый проект SCIENCE.POINT – серию открытых научно-исследовательских, профессиональных и популярных семинаров. Первый семинар состоится уже 30 сентября!

В проекте будут принимать участие ведущие и молодые ученые, аспиранты и магистранты, индустриальные партнеры и технологические предприниматели, эксперты и фрилансеры, а также все те, кто неравнодушен к развитию науки и технологий.

 

Все мероприятия будут проводиться на площадке Точки Кипения ИТА ЮФУ с онлайн-трансляцией на youtube-канал и страницу ИНЭП ЮФУ Вконтакте.

Первый семинар пройдет 30 сентября  на базе Лаборатории технологии функциональных наноматериалов при поддержке проекта Российского научного фонда №20-69-46076 «Монолитная интеграция полупроводников А3В5 на кремнии для интегральных элементов оптоэлектроники и нанофотоники» (руководитель проекта Агеев О.А., д.т.н., чл.-корр. РАН). Он будет  представлен ведущим ученым, старшим научным сотрудником Физико-технического института им. Иоффе Российской академии наук, кандидатом физико-математических наук Николаем Фалеевым. Он расскажет о современном состоянии и возможностях метода высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии (HR-XRD) в области структурной диагностики полупроводников и наногетероструктур на их основе. Участники семинара также узнают об истории развития метода рентгеновской дифрактометрии, современных методиках анализа структуры вещества, а также процессах образования дефектов кристаллической структуры в процессе формирования сложных полупроводниковых гетероструктур.

 

Доступ: свободный – приглашаются все желающие.

 

Ссылка на мероприятие.

 

Проект будет способствовать вовлечению и популяризации научных тематик ИНЭП ЮФУ, открытой научной дискуссии о современных технологиях и технологиях будущего, развитию навыков научной дискуссии и презентации исследовательских результатов, а также междисциплинарных исследований с исследовательскими коллективами Института.

 


Источник: ЮФУ

 
Проект Издательского дома "Положевец и Партнеры"

По вопросам партнерства обращайтесь по электронной почте chooseit@samag.ru

Телефон: +7 499 277-12-45